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北京恒奧德儀器儀表有限公司
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表面涂層測厚儀的影響因素以及使用規定
點(diǎn)擊次數:1507      更新時(shí)間:2020-07-06

測量原理

  . 磁吸力測量原理及測厚儀

  磁鐵(測頭)與導磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成定比例關(guān)系,這個(gè)距離就是覆層的厚度。利用這原理制成測厚儀,只要覆層與基材的導磁率之差足夠大,就可行測量。鑒于大多數業(yè)品采用結構鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,所以磁性測厚儀應用。測厚儀基本結構由磁鋼,接力簧,標尺及自停機構組成。磁鋼與被測物吸合后,將測量簧在其后逐漸拉長(cháng),拉力逐漸增大。當拉力剛好大于吸力,磁鋼脫離的瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產(chǎn)品可以自動(dòng)成這記錄過(guò)程。不同的型號有不同的量程與適用場(chǎng)合。

  這種儀器的點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便、堅固耐用、不用電源,測量前無(wú)須校準,價(jià)格也較低,很適合車(chē)間做現場(chǎng)質(zhì)量控制

  

  使用規定

  a 基體金屬性

  對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。 對于渦方法,標準片基體金屬的電性質(zhì),應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

  b 基體金屬厚度

  檢查基體金屬厚度是否過(guò)臨界厚度,如果沒(méi)有,可采用3.3中的某種方法行校準。

  c 邊緣效應

  不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處行測量。

  d 曲率

  不應在試件的彎曲表面上測量。

  e 讀數次數

  通常由于儀器的每次讀數并不相同,因此在每測量面積內取幾個(gè)讀數。覆蓋層厚度的局差異,也要求在給定的面積內行多次測量,表面粗時(shí)更應如此。

  f 表面清潔度

  測量前,應清除表面上的何附著(zhù)物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去何覆蓋層物質(zhì)

  涂層測厚儀中F,N以及FN的區別:

  F代表ferrous 鐵磁性基體,F型的涂層測厚儀采用電磁感應原理, 來(lái)測量鋼、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層,例如:漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。

  N代表Non- ferrous非鐵磁性基體,N型的涂層測厚儀采用電渦原理;來(lái)測量用渦傳感器測量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。

  FN型的涂層測厚儀既采用電磁感應原理,又采用采用電渦原理,是F型和N型的二合型涂層測厚儀。

   影響因素

  有關(guān)說(shuō)明

  a 基體金屬磁性質(zhì)

  磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷因素的影響,應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器行校準;亦可用待涂覆試件行校準。

  b 基體金屬電性質(zhì)

  基體金屬的電導率對測量有影響,而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器行校準。

  c 基體金屬厚度

  每種儀器都有個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。

  d 邊緣效應

  本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處行測量是不可靠的。

  e 曲率

  試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著(zhù)曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

  f 試件的變形

  測頭會(huì )使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數據。

  g 表面粗糙度

  基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì )引起系統誤差和偶然誤差,每次測量時(shí),在不同位置上應增加測量的次數,以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn);或用對基體金屬沒(méi)有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對儀器的零點(diǎn)