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北京恒奧德儀器儀表有限公司
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恒奧德儀器HAD-GTC型圖像冠層分析儀植物冠層分析儀的原理和使用方法
點(diǎn)擊次數:448      更新時(shí)間:2023-04-23

       HAD-GTC型圖像冠層分析儀植物冠層分析儀的原理和使用方法

 

 

  植物冠層分析儀的原理和使用方法

 

  廣泛適用于農業(yè)、園藝、林業(yè)域有關(guān)栽培、育種、 植物群體對比與發(fā)展的研究與教學(xué)中農作物、果樹(shù)、森林內冠層受光狀況的測量和分析。能測算植物冠層的太陽(yáng)直射光透過(guò)率、天空散射光透過(guò)率、冠層的消光系數,葉面積數和葉片平均傾角等。

 

  1:采用了冠層孔隙率與冠層結構相關(guān)的原理。它是根據光線(xiàn)穿過(guò)介質(zhì)減弱的比爾定律,在對植物冠層定義了系列假設前提的條件下,采用半理論半經(jīng)驗的公式,通過(guò)冠層孔隙率的測定,計算出冠層結構參數。采用的是對冠層下天穹半圖像分析測量冠層孔隙率的方法。

 

  21.非破壞性地測定冠層結構2.可以測量冠層內外的光合有效輻射(PAR)3.手持式向接頭自動(dòng)水平調整探頭,4.隨身攜帶的筆記本計算機可以幫助你正確選點(diǎn)取樣,即時(shí)決定圖像的取舍5.由計算機電池提供電源其輕便、便于觀(guān)測,尤其適合成野外繁重的觀(guān)測務(wù)6. 圖像分析軟件可以意定義圖像分析區域(天角可分10區,方位角可分10)。對不同方向的冠層行區域性分析時(shí),可以意屏蔽地物景像和不合理的冠層分(如缺株、邊行問(wèn)題等)。對不同天角起始角和終止角的選擇,可以避開(kāi)不符合計算該冠層結構參數的冠層孔隙條件 7.通過(guò)USB接口直接將測點(diǎn)圖像顯示在計算機上,可以在野外即時(shí)觀(guān)察圖像,選擇合理的測點(diǎn),將圖像存貯。8.半圖象上可以何地點(diǎn)、何時(shí)間的太陽(yáng)視運動(dòng)軌跡,以及冠層內意時(shí)刻的受光狀況。