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非線(xiàn)性元件伏安性實(shí)驗儀HASD-FD-UI-B 非線(xiàn)性元件伏安性曲線(xiàn)的測量是?；A物理實(shí)驗課程的個(gè)重要實(shí)驗，也是科研中常用電磁學(xué)實(shí)驗方法之。本儀器是根據校物理實(shí)驗教學(xué)大綱中多個(gè)電學(xué)實(shí)驗的要求而成。

液體電導率測量實(shí)驗儀型號；HAD-FD-LCM-A HAD-FD-LCM-A液體電導率測量實(shí)驗儀是種物理思想其豐富，實(shí)驗方法巧妙，實(shí)驗動(dòng)手能力訓練內容多，并有實(shí)際應用價(jià)值的基礎物理實(shí)驗教學(xué)儀器。

微機型靜電場(chǎng)描繪實(shí)驗儀型號；HAD-FD-EFL-A 在程上，常常需要知道電系統的電場(chǎng)分布情況，以便研究電子或帶電質(zhì)點(diǎn)在該電場(chǎng)中的運動(dòng)規律。例如，為了研究電子束在示波管中的聚焦和偏轉，這就需要知道示波管中電電場(chǎng)的分布情況。

光學(xué)實(shí)驗儀型號；HAD-FD-MOE 它可以做多種重要而基本的幾何光學(xué)和物理光學(xué)實(shí)驗，例如光偏振實(shí)驗，固體介質(zhì)折射率測定實(shí)驗，透鏡焦距測定實(shí)驗，單絲、單縫、小孔衍射實(shí)驗，太陽(yáng)能電池基本性測定實(shí)驗等等。

透鏡焦距測定儀型號HAD-FD-0E-1 用光具座以透鏡成像原理測量凸透鏡和凹透鏡的焦距是理科大學(xué)的個(gè)主要的光學(xué)物理實(shí)驗。目前通用的光具座存在下列不足：體積大、易生銹、移動(dòng)不靈活且在暗室中做實(shí)驗。給測量帶來(lái)不便。

光偏振實(shí)驗儀 型號；HAD-FD-OE-2 光的偏振現象是波動(dòng)光學(xué)中種重要現象，它在諸如光調制器、光開(kāi)關(guān)、應力分析、光信息處理、光通訊、激光儀及光電子器件等方面有著(zhù)廣泛的應用。

固體介質(zhì)折射率測定儀型號；HAD-FD-OE-3 折射率是反映介質(zhì)光學(xué)性質(zhì)的重要參數之。本儀器采用的實(shí)驗方法，在光學(xué)測量中具有典型性和基本要求的點(diǎn)。用測布儒斯角的方法測量透明介質(zhì)的折射率及利用測量激光照射半導體薄片的反射系數方法，測量分半導體如硅、砷化鎵等介質(zhì)的折射率。

太陽(yáng)能電池性測定儀型號；HAD-FD-OE-4 　能源的重要性人人皆知，為了經(jīng)濟持續發(fā)展及環(huán)境保護，人們正大量開(kāi)發(fā)其它能源如水能、風(fēng)能及太陽(yáng)能的利用。其中以硅太陽(yáng)能電池作為綠色能源其開(kāi)發(fā)和利用大有發(fā)展前景。

單絲和單縫衍射實(shí)驗儀型號；HAD-FD-OE-5 單絲、單縫和小孔衍射實(shí)驗是校理科基本光學(xué)實(shí)驗之。本儀器用半導體激光器為光源，觀(guān)察單絲、單縫和圓孔的夫瑯和費衍射現象，以及絲徑、縫寬、孔徑的變化對衍射的影響，加深對光的衍射理論的理解，并利用衍射花樣測定單絲的直徑和單縫寬度。

雙棱鏡光干涉實(shí)驗儀 型號；HAD-FD-FBI-B 1826年法家菲涅耳（Fresnel）用雙棱鏡將束相干光的波前分成兩分，形成分波面干涉，利用測量干涉條紋間距（毫米量）,求得光的波長(cháng)（納米量）。此光干涉實(shí)驗的物理思想、實(shí)驗方法與測量巧,具有很深的教學(xué)價(jià)值。